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超声波扫描显微镜新应用之覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)空洞率无损检测
  随着新能源、电动汽车、5G通讯等行业的快速发展,IGBT等半导体功率器件的需求也快速增加,性能要求也越来越高,采用超声波扫描显微镜筛选有缺陷的覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)可以有效改善功率器件的性能和可靠性。覆铜陶瓷基板(Direct Bond Copper,DBC)是采用热熔式粘合法,在高温下将铜箔直接烧结到氧化铝Al2O3和氮化铝AlN陶瓷表面而制成的一种复合基板。覆铜陶瓷基板AMB(Active Metal Brazing,活性金属钎焊)工艺是DBC工艺技术的进一步发展,AMB基板是靠陶瓷与活性金属焊膏在高温下进行化学反应来实现结合,因此其结合强度更高,可靠性更好,因此该工艺更适合制备在电动汽车、动力机车用IGBT模块封装用陶瓷覆铜基板。为了保证后续IGBT等模块的可靠性和安全性,必须采用超声波扫描显微镜对覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)内部粘结层的空洞和分层进行检测,只有超声波扫描显微镜检测合格的覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)才会被用于制造功率模块。
  
  
  覆铜陶瓷基板_DBC_AMB
  覆铜陶瓷基板_DBC_AMB
  
  
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)具有良好的机械强度、热稳定性、热传导性、热膨胀系数、绝缘性、电流承载能力、散热能力等优势,在风能、太阳能、热泵、水电、生物质能、绿色建筑、新能源装备、电动汽车、轨道交通等重要领域内IGBT模块封装上形成巨大需求,而这些覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)的需求都离不开超声波扫描显微镜的缺陷检测分析。IGBT模块由基板、覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)、芯片等组成,各层之间的焊接质量直接影响IGBT等功率模块的可靠性。超声波扫描显微镜可以利用超声波信号,实现对样品焊接界面和填充层的无损检测,有效计算分析缺陷率,是半导体封装测试不可或缺的质量控制和失效分析工具。超声波扫描显微镜,也成为声扫或者C-SAM设备,能够实时检测产品内部的界面图像,具有精度高、检测准确、无损等优势,对缺陷识别高达微米级。由于超声波扫描显微镜采用接合面回波信号判定缺陷,所以能够对产品内部逐层扫描检测,不同于X-ray的综合成像检测。
  
  
  超声波扫描显微镜检测功率模块各层典型尺寸
  超声波扫描显微镜检测功率模块各层典型尺寸
  
  
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB),采用表面金属化技术,结构包括3层,中间为陶瓷绝缘层,上下两面为覆铜层。正面覆铜层刻蚀电路图像,为导电作用,背面覆铜层直接焊接在散热基板上,为导热散热作用,不需要刻蚀电路图案。对于IGBT等功率模块,覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)内部绝缘导热是一项重要技术指标,超声波扫描显微镜可以有效检测覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)内部的空洞、分层、裂纹等缺陷 ,并筛选出有良品,保证IGBT等功率模块的合格率和产品质量。通常覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)表面刻蚀有复杂精细的孤岛状线路图案,一片母版上会有上百个孤岛金属单元,为了实现全部无损检测,超声波扫描显微镜发挥了不可替代的作用,实现快速、高效、高分辨率、无损检测。
  
  
  SiC MOSFET模块封装结构图
  SiC MOSFET模块封装结构图
  
  
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)检测中心,设置超声波扫描显微镜测试实验室,在覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)无损检测方面具有丰富的技术经验,检测中心具有各种资质和非标检测能力,取得了技术认证,可以为客户提供覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)超声波扫描显微镜等各种科学、公正、严谨的分析检测服务。覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)检测中心经过多年的发展,已具备完善的分析检测能力,可以按照国内外相关标准规范,独立开展超声波扫描显微镜等多种测试服务。覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)检测中心可以提供的检测项目包括成分分析、材料检验、问题诊断、失效分析、科学实验、性能测试等诸多领域。覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)检测中心适用样品:适用样品包括刚性覆铜板、挠性覆铜板、有机树脂覆铜板、金属基覆铜板、陶瓷基覆铜板、电子玻纤布基覆铜板、纸基覆铜板及复合基覆铜板、环氧树脂覆铜板、聚酯树脂覆铜板、氰酸酯树脂覆铜板、聚酯薄膜型覆铜板、聚酰亚胺薄膜型覆铜板、极薄电子玻纤布型覆铜板等。覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)检测中心服务项目:玻璃化转变温度、紫外光透过率、耐热性、尺寸稳定性、粘结强度、介电常数、吸水率、厚度均匀性、绝缘性、电导率、阻燃性等。
  
  
  IGBT模块内部结构典型尺寸及热导率
  IGBT模块内部结构典型尺寸及热导率
  
  
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)是PCB制造的上游核心材料,覆铜板对电路中信号的传输速度、能量损失和特性阻抗等有很大的影响,因此印制电路板的性能、品质、制造中的加工性、制造水平、制造成本以及长期的可靠性及稳定性在很大程度上取决于覆铜板。为了匹配客户的覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)检测需求,并提供科学有效的超声波扫描显微镜检测方案,请按照如下超声波扫描显微镜扫描测试覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)检测流程:
  1.在线或电话咨询,沟通超声波扫描显微镜检测项目;
  2.寄送样品,确认超声波扫描显微镜实验方案;
  3.签署保密协议,支付超声波扫描显微镜检测费用;
  4.整理实验数据,出具超声波扫描显微镜检测报告;
  5.更多增值服务。
  
  
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)超声波扫描显微镜检测报告
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)工件详细信息:
  产品型号/编号:DBC-140X190
  材料/声速(m/s):Cu,4700
  尺寸:140mm*190mm
  超声波扫描显微镜参数设置:
  探头频率/晶片直径/焦距(MHz/in/in):50MHz,0.25inch,0.5inch
  检测分辨率:200um
  扫描时间/s:190s
  检测说明:
  1.本样品共1件,全部检测;
  2.工件图片中工件摆放位置正面与C扫描图像一致;
  检测结果:
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)实物照片
  覆铜陶瓷基板-DBC-AMB
  覆铜陶瓷基板-DBC-AMB
  
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)结构示意图
  覆铜陶瓷基板_DBC_AMB结构示意图
  覆铜陶瓷基板_DBC_AMB结构示意图
  
  覆铜陶瓷基板(DBC,AMB)超声波扫描显微镜检测图像
  覆铜陶瓷基板DBC超声波扫描显微镜检测图像
  覆铜陶瓷基板DBC超声波扫描显微镜检测图像
  覆铜陶瓷基板DBC超声波扫描显微镜C-SAM检测图像
  覆铜陶瓷基板DBC超声波扫描显微镜C-SAM检测图像
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